ImageIR®是高端相機系列，專為特別嚴苛的測量和檢測而設計，以出色的性能樹立最高標準。

EM 系列是安新針對電器與電子元件檢測所開發的熱輻射顯微鏡 (專利第 M609641 號)，整合高性能的紅外線相機，能檢測半導體元件或顯示面板，精準的找出問題發生處，為失效分析 Failure Analysis 的強大工具

▚ 溫度靈敏

▚ 高光學解析

▚ 快速響應

▚ 精準分析