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 測試與應用

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ImageIR®是高端相機系列,專為特別嚴苛的測量和檢測而設計,以出色的性能樹立最高標準。

 客戶應用實例 - 熱輻射顯微鏡

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EM 系列是安新針對電器與電子元件檢測所開發的熱輻射顯微鏡 (專利第 M609641 號),整合高性能的紅外線相機,能檢測半導體元件或顯示面板,精準的找出問題發生處,為失效分析 Failure Analysis 的強大工具

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